傳統(tǒng)BeO-為引出束流的AMS方法雖然巧妙地運用了二次剝離膜技術(shù)降低了10B的干擾，但對于10Be束流的傳輸效率和品質(zhì)也造成了損失，使得總效率大幅下降；并且所用BeO樣品在制備中相對周期較長且存在一定的毒性。而利用Be的超級鹵素負(fù)離子即BeF3-不僅引出束流相對BeO-提高了約5倍，而且在離子源引出時就對B抑制了約5個量級，無需使用二次剝離膜技術(shù)即可分析10Be樣品，其最終能譜圖如圖2）所示，此方法提高了總傳輸效率至少3倍（Fu et al., 2015 , Nucl. Instr. Meth. B），10Be可更為快速的獲得同等精度數(shù)據(jù)。同時我室樣品制備上將樣品處理為BaBeF4，而不在是傳統(tǒng)的BeO樣品，BaBeF4不僅提供了F離子，避免了制備BeO成為氣載塵埃的風(fēng)險，相對BeO的步驟也更為省時和快速。可提供將來測量10Be的緊湊型AMS簡化其高能端設(shè)計的可能性。本實驗室這一原創(chuàng)性技術(shù)成果還授權(quán)了國家發(fā)明專利（付云翀，2016，發(fā)明專利）。但是，此方法還存在一定的離子源記憶效應(yīng)的問題，這將是我們未來致力解決的技術(shù)難點。
圖2 利用超級鹵素負(fù)離子方法所獲的10Be標(biāo)準(zhǔn)與本底樣品在探測器ΔE和Ef 中能譜圖
